Description :
Mesurez votre puissance au plan échantillon
La capacité de mesurer de la puissance optique de façon répétable et au plus prés de l'échantillon offrant un avantage majeurs pour une exploration quantitative des données.
L'appareil de mesure de puissance X-Cite® XR2100 et le capteur de puissance plan pour objectif X-Cite® XP750 sont spécifiquement conçus pour mesurer la puissance au niveau du spécimen dans des applications de microscopie par fluorescence.X-Cite® XR2100 X-C.
Avantages produit :
Format lame microscopie
Conçu pour la microscopie par fluorescence
Intègre une large plage de dynamique dans un seul détecteur
Transfert facile et paramètres et de données via l'interface PC
Appareil calibré sur standard NIST et NRC
La capacité de mesurer de la puissance optique de façon répétable et au plus prés de l'échantillon offrant un avantage majeurs pour une exploration quantitative des données.
L'appareil de mesure de puissance X-Cite® XR2100 et le capteur de puissance plan pour objectif X-Cite® XP750 sont spécifiquement conçus pour mesurer la puissance au niveau du spécimen dans des applications de microscopie par fluorescence.X-Cite® XR2100 X-C.
Avantages produit :
Format lame microscopie
Conçu pour la microscopie par fluorescence
Intègre une large plage de dynamique dans un seul détecteur
Transfert facile et paramètres et de données via l'interface PC
Appareil calibré sur standard NIST et NRC