XSOLO DE INEL

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XSOLO DE INEL
jeudi 6 juin 2013Description
INEL, société française spécialisée dans la conception de matériel de diffraction de rayons X présente son nouveau système nomade de mesures de contrainte résiduelle par diffraction rayons X, Xsolo. C est un instrument compact et léger, alliant performances et portabilité. D ordinaire les mesures de contrainte résiduelle sont faites sur des appareils de laboratoire ou des systèmes robotisés encombrants. Grâce aux petites dimensions (h 25cm < 10 kg) d'Xsolo, c est l'analyseur lui même que l'on déplace jusqu'à la pièce à analyser. Le principe de Xsolo n est pas fondé sur une méthode goniométrique classique, mais sur une mesure de la distorsion du cercle de Debye. Un échantillon sans contrainte donne un cercle de Debye parfait, alors qu'avec un échantillon ayant subi une contrainte, le signal prendra la forme d'une ellipse. En pratique, on compare l'image de diffraction obtenue avec les deux échantillons et on évalue la distorsion de celui de l'échantillon avec contrainte par rapport à celui de la référence. Ensuite, un traitement mathématique des données permet d'accéder à la valeur de contrainte appliquée sur l'échantillon. De plus, la mesure de contrainte ne souffre pas de la présence de texture dans l'échantillon comparé à des mesures faites par des systèmes similaires. Et mieux encore, cette texture peut même être estimée. De plus, une comparaison avec des mesures réalisées sur des systèmes de mesure de contrainte résiduelle 4 cercles de laboratoire, technique de référence dans le domaine, a montré qu'Xsolo donne des résultats comparables. Nomenclature : AUTRE : Contrôle non destructif de matériaux de terrain Domaine d'application : Autres Industries google_ad_client = "ca-pub-1856499900792921"; google_ad_slot = "6365035811"; google_ad_width = 468; google_ad_height = 60;

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